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: 布鲁克Dektak Pro：第十一代探针式轮廓仪，重新定义精密测量的精度与效率2026-05-29

作为Dektak系列的旗舰升级款，DektakPro凝聚布鲁克55年技术创新，将接触式测量的性能推至全新高度。核心精度：垂直分辨率1Å，台阶高度重复性稳定优于4Å，数据精准度与重复性*实验室顶级标准。搭载直驱扫描台与Vision64智能软件，自动台阶检测减少人为误差，2D/3D形貌、应力、晶圆翘曲一键分析。硬件兼容：支持200mm（8英寸）样品，扫描长度达5......

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产品介绍|Bruker椭偏仪 FilmTek 6000 PAR-SE 2022-09-28

想了解相关产品，可联系bat365在线体育登录FilmTek™6000标准杆数-SE多模薄膜计量系统在1xnm设计节点和更高的位置为广泛的薄膜层提供生产验证的薄膜厚度、折射率和应力测量监测。该系统能够在新一代集成电路的生产过程中实现更严格的过程控制，提高器件产量，并支持下一代节点技术的开发。制造1xnm的I......

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eSwab拭子——多用途样本采集运输系统 2022-09-26

eSwab®是Copan的液体Amies介质拭子，这套采集及运输系统是我们的多用途介质，专门用于采集和运输含有需氧菌、厌氧菌、嗜菌、病毒和衣原体的临床标本。eSwab®的技术特点和基液配方使其成为一款极为通用的产品，它还可以优化您的实验室工作流程，并降低成本。eSwab®不是孤立的eSwab&r......

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布鲁克三维光学轮廓仪在光学领域应用 2022-09-21

光学元件在各个领域都有广泛应用，对光学元件的表面加工精度提出越来越高的要求。如何检测光学元件的加工精度，从而用于优化加工方法，保证最终元器件的性能指标，是光学元件加工领域的关键问题之一。光学元件的加工精度包括表面质量和面型精度，这些参数会影响其对光信号的传播，进而影响最终器件的性能。此外，各种新型光学元件也需要检测其表......

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产品介绍|Bruker椭偏仪FilmTek 2000 PAR-SE 2022-09-16

——用于几乎所有先进薄膜或产品晶片测量的先进多模计量FilmTek™2000标准杆数-SE光谱椭圆偏振仪/多角度反射仪系统结合了FilmTek技术，为从研发到生产的几乎所有薄膜测量应用提供了业界的精度、精度和多功能性。其标准的小点测量尺寸和模式识别能力使该系统成为表征图案化薄膜和产品晶片的理想选择。作为我们......

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